Đặc điểm của hệ thống X-Ray kiểm tra cắt lớp (CT) chi tiết cơ khí nhỏ & bo mạch điện tử model Nanotom M

Hệ thống kiểm tra Xray công nghệ CT phù hợp cho các ứng dụng nghiên cứu vật liệu, mẫu quặng, kiểm tra khuôn mẫu, chi tiết điện tử - bán dẫn, chi tiết cơ khí kim loại, lắp ráp phức tạp...

Kết hợp chụp ảnh X-ray kỹ thuật số 2D và công nghệ chụp ảnh cắt lớp CT

Ống phát tia X-ray lưỡng cực 180kV/15W

Độ phóng đại 2D: 1.5 ->100 lần

Kích thước nhỏ có thể phát hiện: 200nm; Độ phân giải 3D: < 500 nm

Kích thước mẫu kiểm tra tối đa (H x D): 150 mm x 120 mm (/250mm x 240mm); Điều khiển trên 5 trục

Khối lượng mẫu kiểm tra tối đa: 2 kg (/3 kg)

Chức năng tái tạo hình ảnh có kích thước và so sánh với bản vẽ CAD (Tùy chọn)